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材料分析中心
文章正文
中科易朔材料分析研發(fā)中心
  1.  

對新材料成分、性能及其組織結構的分析檢測和研究開發(fā),是現代材料科學發(fā)展的重要推動力。既為基礎與應用科學研究提供支撐、也為社會企業(yè)自主創(chuàng)新提供技術服務。 

中科易朔材料分析中心依托中國科學院的科研平臺,匯集國內外專家學者,結合本身優(yōu)勢和多年積累的經驗,為企業(yè)提供從材料成分分析,配方成分分析,材料形貌檢測,材料物性檢測到材料改性開發(fā)提供全方案的解決方案。 

不僅僅是分析,我們的材料科學家無論從材料基礎研究,還是實際生產應用,都能提供專業(yè)的建議意見,幫助提高產品的質量和性能和企業(yè)創(chuàng)新能力,保證企業(yè)的競爭力。 

分析中心擁有專業(yè)的專家學者和先進的分析研究設施:

  

設備圖片

設備名稱

設備原理

W020171023510834329804

傅里葉紅外光譜儀

Thermo Nicolet

          通過發(fā)出不同波長的紅外光線照射待測物質,再通過傳感器接受透過的紅外光線的強度并得到對應的光譜。通過解析光譜可快速測定有機材料的組分。

W020171023510834348070 (1)

紫外-可見-近紅外分光光譜儀

Agilent Cary

通過發(fā)出紫外,可見光或近紅外光線對待測物質進行照射,并得到原子的吸收光譜??蓽蚀_的定性定量分析材料中所含的元素及含量

 

W020171023494409849756

波長色散型X射線熒光光譜儀(XRF

ANalytical

通過X射線照射待測物質使其產生熒光(新的X射線)通過檢測待測物質所發(fā)出的X射線的波長以及強度即可確定組成及含量。可以有效的分析測試樣品中的不純的物質。

W020171023494409834348

電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP-OES

JY-Horiba

          將待測物質被加熱后原子化,電離,激發(fā)。通過施加能量使原子本身發(fā)生受激輻射發(fā)光(電磁波)??梢苑治霾牧现兴脑亍?/span>

W020171023494409879838

高效液相色譜儀

Agilent

將制成溶液的待測樣品通入色相柱內,由于不同的組分在色相柱中的分配系數不同,在反復的吸附-解吸的過程中將樣品中的組分分離并被檢測器檢出。主要用于分析高沸點不易揮發(fā)的、受熱不穩(wěn)定的和分子量大的有機化合物。

W020171023494409861012

元素分析儀

Elementar

          在復合催化劑的作用下,樣品經高溫氧化燃燒生成氮氣、氮的氧化物、二氧化碳、二氧化硫和水,并在載氣的推動下,進入分離檢測單元??捎糜诙ㄐ远康姆治?span lang="EN-US">C, O,S,N,H這五種元素。

W020171023494409818148

輝光放電質譜儀(GD-MS

Thermo

          在低壓條件下通過電子和亞穩(wěn)態(tài)的稀有氣體原子對樣品進行碰撞使其達到等離子態(tài)。最后進入質量分析器內分析其是何種元素。

W020171023494409834348

電感耦合等離子體串聯(lián)質譜儀(ICP-MS

Agilent

          通過高溫等離子體加熱樣品使其受熱電離,產生的離子經過離子光學透鏡聚焦后進人四極桿質譜分析器按照荷質比分離,既可以按照荷質比進行半定量分析,也可以按照特定荷質比的離子數目進行定量分析。

W020171023494409890800

三重串聯(lián)四極桿氣質聯(lián)用儀

Agilent

物質氣化后以分子狀態(tài)進入質譜儀后,經過燈絲發(fā)射的電子轟擊后,成各種不同的碎片;然后這些碎片進入四極桿后,由于碎片的質量和所帶的電核不同(質荷比),帶電碎片到達終點(接收端)的時間不同,從而得知是何種粒子。

W020171023539925500421

X射線粉末衍射儀

Rigaku

通過X射線對樣品進行不同角度的照射,使其在晶體內部發(fā)生衍射。通過接收衍射光,可以得出物質的晶型,種類,晶體缺陷,聚合物的結晶度等等。

W020171023552224033337

同步熱分析儀(TGA/DSC

Mettler-Toledo

          在程序溫度控制下測量物質與參比物之間單位時間的能量差隨溫度的變化(DSC)可表現出物質的形態(tài)的變化。同時記錄樣品隨溫度變化而產生的重量變化(TGA),可判斷出物質所含的組份數。

W020171023515064240460

掃描電子顯微鏡- 能譜儀

Hitachi

通過二次電子成像原理將樣品表面成像放大。其與光學顯微鏡相同可直觀的觀察材料的表面的微觀形貌,最小可觀察到納米級表面。同時能譜儀可在觀

W020171023552224127586

萬能材料試驗機

Instron

          通過不同的應力作用可以測量材料的拉伸,彎曲,剪切,壓縮等不同應力狀態(tài)下的形變,受力極限等情況。

 

W020171023552224039736

動態(tài)熱機械分析儀(DMA

Mettler-Toledo

通過對樣品施加一個不斷變化的壓力以檢測材料的應力遲滯,熱損耗等現象,也可通過升溫以確定樣品的玻璃化轉變溫度Tg,熔融溫度Tm

W020171023552224054421

粒度/Zeta電位分析儀

Brookhaven

利用光的散射原理測量粉顆粒大小的,其特點是測量的動態(tài)范圍寬、測量速度快、操作方便。

 

W020171023552224053771

全自動氣體吸附分析儀

Quantachrome

 

          通過測定氣體的吸附率來測定粉體材料,多孔/微孔材料的比表面積。

 

紫外老化試驗箱

ATLAS

可以再現樣品在戶外需要數月或數年所產生的破壞??串a品是否有退色、變色、亮度下降、粉化、龜裂、變模糊、脆化、強度下降及氧化等現象,同時它還可以再現雨水和露水所產生的破壞。

 

 

 

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